B1500半导体分析仪FET性能测试能够精准测量场效应晶体管的转移特性曲线Id-Vg曲线和输出特性曲线Id-Vd曲线IV测试宽量程直流电流-电压测试覆盖皮安至安培级电流适用于晶体管、二极管、电阻、互连器件等电学特性表征CV测试宽频电容-电压测试重点应用于MOS电容、栅介质、PN结等器件的电容特性分析超快脉冲IV测试测量窄脉冲下的I‑V曲线可自由编辑脉冲测试电压波形脉宽ns ~ μs级最小10 ns测试精度电流分辨率高达1fA电压分辨率达1μV可精准捕获微弱电学信号联用设备可与探针台、低温系统、光学测试平台集成实现光电联合测试与自动化数据采集高温探针台系统测试内容光电流光电压光伏器件响应速度等工作温度-196℃-400℃定位器的移动精度为10µm,吸附方式为磁力吸附或真空吸附光学系统显微镜放大倍率为16x-200x或20x-4000x